確かな信頼性評価を実現します
J-RASの製品は各種信頼性試験に最適なアウトプットを提供します。優れた性能・機能・信頼性でお客様の製品信頼性の向上を強力にサポート致します。
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エレクトロケミカルマイグレーションテスター
ECM-100シリーズ16msecの⾼速サンプリング処理による優れたECM（MIG）検出能力、1～300Vのワイド印加電圧レンジ、ハイサイド計測による⾼い作業効率など、ハイパフォーマンスを実現したテスターです。多チャンネル絶縁抵抗計としてもご活用頂けます。
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【新製品 2026年リリース】エレクトロケミカルマイグレーションテスター
ECMr-500シリーズECM-100シリーズの高速多チャンネル同時計測性能と、ECM-500シリーズの最大500V印加電圧性能を融合した次世代モデルです。16msの高速サンプリングでリークタッチ現象を高精度に検出し、幅広い電子材料・デバイスの信頼性評価に対応します。
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高電圧絶縁信頼性試験装置
HVUαシリーズ高電圧絶縁抵抗計測はもちろん100n秒以下の高速イベントの検出が可能です。部分放電などによる瞬間的な電流変化も計測できます。完全独⽴制御の高電圧印加回路により各チャンネル個別電圧設定も行える便利な高機能テスターです。
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導通信頼性評価装置
RTm-100シリーズμΩレベルの微小抵抗を高精度に計測可能な多CHテスターです。50msec／CHの高速スキャン処理で、電流、電圧を同時サンプリングし正確に抵抗値を算出します。小型筐体に最大240CHまで増設可能です。標準でAC／DC電流ソースを装備していますので様々なサンプル評価にご利用いただけます。
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導通信頼性評価装置
RTm-30DCシリーズ最大3AのDC電流でVIAホールやスルーホールに電気的ストレスを与え導通信頼性評価を行うテスターです。専⽤設計の計測回路により1個のVIAの微⼩抵抗の変化を高精度に計測可能です。カーエレクトロニクス関連の電子材料、プリント基板の評価に最適です。
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