確かな信頼性評価を実現します
J-RASの製品は各種信頼性試験に最適なアウトプットを提供します。優れた性能・機能・信頼性でお客様の製品信頼性の向上を強力にサポート致します。
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エレクトロケミカルマイグレーションテスター
ECM-100シリーズ16msecの⾼速サンプリング処理による優れたECM（MIG）検出能力、1～300Vのワイド印加電圧レンジ、ハイサイド計測による⾼い作業効率など、ハイパフォーマンスを実現したテスターです。多チャンネル絶縁抵抗計としてもご活用頂けます。
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エレクトロケミカルマイグレーションテスター
ECM-500シリーズ最大500Vの印加電圧で試験可能です。瞬時リーク電流検出回路を搭載し、100n秒以下の瞬間的な絶縁劣化も確実に捉えます。 CH個別搭載の計測回路で通常のスキャン処理による抵抗値計測も50m秒／CHと高速です。
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高電圧絶縁信頼性試験装置
HVUαシリーズ高電圧絶縁抵抗計測はもちろん100n秒以下の高速イベントの検出が可能です。部分放電などによる瞬間的な電流変化も計測できます。完全独⽴制御の高電圧印加回路により各チャンネル個別電圧設定も行える便利な高機能テスターです。
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導通信頼性評価装置
RTm-100シリーズμΩレベルの微小抵抗を高精度に計測可能な多CHテスターです。50msec／CHの高速スキャン処理で、電流、電圧を同時サンプリングし正確に抵抗値を算出します。小型筐体に最大240CHまで増設可能です。標準でAC／DC電流ソースを装備していますので様々なサンプル評価にご利用いただけます。
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導通信頼性評価装置
RTm-30DCシリーズ最大3AのDC電流でVIAホールやスルーホールに電気的ストレスを与え導通信頼性評価を行うテスターです。専⽤設計の計測回路により1個のVIAの微⼩抵抗の変化を高精度に計測可能です。カーエレクトロニクス関連の電子材料、プリント基板の評価に最適です。
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