3Aの⼤電流でVIAホールの導通信頼性評価
導通信頼性評価装置　RTm-30DCシリーズ

製品の特⻑

• 3Aの大電流印加(DC電流)でVIAホールなどにストレスを与えて抵抗値の計測が可能
• 微小抵抗計測にフォーカスした設計でuΩの抵抗値変化を高分解能で計測
• CH毎のツイストペアケーブルでノイズを効果的に低減
• NG判定の基準値として任意設定サイクル数分の平均値を自動設定可能(判定要素が変化率%の場合)
• 最大160CHまで増設可能なコンパクトな筐体は設置や移設も容易

用途

• VIAホール、スルーホール等の導通部分の大電流印加ストレス時の導通信頼性評価。
• ストレス電流は0.1A〜3.0Aまで任意設定可能でカーエレクトロニクス関連メーカーの試験要求にも対応。