確かな絶縁信頼性評価を実現します
J-RASの製品は各種信頼性試験に最適なアウトプットを提供します。優れた性能・機能・信頼性でお客様の製品信頼性の向上を強力にサポート致します。
高電圧絶縁信頼性評価装置 HVUシリーズ NEW
最大3000Vのストレス電圧を出力する多チャンネル絶縁信頼性評価装置です。ワイドギャップ半導体等の高電圧デバイスを効率的に評価できる他に類の無いテスターです。HVUシリーズの仕様はカスタマイズも承ります。
信頼性の高い槽内連続モニタリングによるECM試験を低価格で導入できるテスターです。任意設定可能で確実なNGレベル検出機能は耐マイグレーション性能の評価の価値を高めます。コンパクトな筺体に最大50CHまで増設できます。