Ｊ－ＲＡＳ株式会社

16msecの高速サンプリング処理による優れたECM（MIG）検出能力、1~300Vのワイド印加電圧レンジ、ハイサイド計測による高い作業効率など、ハイパフォーマンスを実現したテスターです。 多チャンネル絶縁抵抗計としてもご活用頂けます。

 

最大3000Vのストレス電圧を出力する多チャンネル絶縁信頼性評価装置です。ワイドギャップ半導体等の高電圧デバイスを効率的に評価できる他に類の無いテスターです。HVUシリーズの仕様はカスタマイズも承ります。